利用低能平行Ar⁺离子束对基片进行物理轰击,通过掩膜选择性地溅射去除未被覆盖的材料,实现高分辨率、高陡直度的图形转移。可兼容金属、合金、半导体、绝缘体等多种材料,满足器件制造中对微细结构的关键工艺需求。
可选配刻蚀终点监控系统,实现离子蚀刻控制以及过程质量最优化监测。
低温基片台设计,避免基片刻蚀损伤,基片表面温度不超过50℃。
工艺配方自由组合,自动化程度高,一键式自动工艺。
工件台角度0~160°自由可调;
兼容其他小于8寸尺寸晶圆和异性片。
1、最大加工尺寸:8寸;
2、腔体数量:1个工艺腔(金属);
3、刻蚀选择比:金属:PR≥1:1;
4、气体路数:≥9路;
5、下电极温度及稳定性:加热范围:5~35℃,温度稳定性:±2℃;
6、反应室温度重复性:≤±1℃;
7、工艺腔极限真空:≤7.5E-4mT。
焦平面探测器、红外器件、隧道磁阻(TMR)传感器、激光芯片、MEMS器件、AR和MR器件表面浮雕光栅、硅电容。